1电子枪类型：肖特基场发射电子枪 (S-FEG)。
2物镜采用恒功率透镜设计
3 物镜极靴间距：大于5 mm，保证双倾样品杆，以及各种原位样品杆的最大转动角度。
4 TEM模式 信息分辨率：≤ 0.12 nm。
5 STEM模式
5.1分辨率：0.16 nm (必须在大极靴间距下获得，即物镜极靴间距大于5 mm)。
5.2 可以配置三个探头，包括高角环形暗场(HAADF)探头， 8分段明场(BF)和环形暗场(ADF)探头（一共16段）。
6 超级能谱
6.1 两个电制冷能谱探头，无窗设计，集成在电镜极靴内。

用于对材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区结构的表征，获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像，和单晶薄膜的相位衬度像 (原子像)。选择特定设计的极靴和样品台，将来可扩展升级进行原位动态实验。

形貌观察、微区结构的表征

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800元/小时